Tulosta…

Hait: LEICA MICROSYSTEMS


197  results were found

Rajaa tulokset Lajittelujärjestys

Sort Results

Luettelonäkymä
SearchResultCount:"197"

Rate These Search Results

Product Image-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3366
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3368

HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Työetäisyys: 11,7 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Työetäisyys: 11,7 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3368
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3367

HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Työetäisyys: 1,15 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Työetäisyys: 1,15 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3367
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Työetäisyys: 0,5 mm

Kuvaus: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Työetäisyys: 0,5 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3369
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506220

HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,09 mm

Kuvaus: HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,09 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506220
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506184

N PLAN 63×/0,80 NA 0,7/D 0,26; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Työetäisyys: 0,26 mm

Kuvaus: N PLAN 63×/0,80 NA 0,7/D 0,26; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Työetäisyys: 0,26 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506184
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556036

N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Työetäisyys: 11,2 mm

Kuvaus: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Työetäisyys: 11,2 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556036
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556061

HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556061
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556511

HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556511
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556065

HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,36 mm

Kuvaus: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,36 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556065
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556060

HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Työetäisyys: 18 mm

Kuvaus: HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Työetäisyys: 18 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556060
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556071

HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 0,92 mm

Kuvaus: HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 0,92 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556071
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506217

HC PLAN FL L 63×/0,70 NA CORR PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 63×, Työetäisyys: 2,6 - 1,8 mm

Kuvaus: HC PLAN FL L 63×/0,70 NA CORR PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 63×, Työetäisyys: 2,6 - 1,8 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506217
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506349

HC PLAN APO 63×/1,40 NA - 0,60 oil; BF, DIC, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Työetäisyys: 0,14 mm

Kuvaus: HC PLAN APO 63×/1,40 NA - 0,60 oil; BF, DIC, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Työetäisyys: 0,14 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506349
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506314

N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,37 mm

Kuvaus: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,37 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506314
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3433

AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class

Kuvaus: AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class
Tuoteluettelon nro: 630-3433
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
-143 - -128 of 197