Tulosta…

Hait: Mikroskoopin+vaiheet


489  results were found

Rajaa tulokset Lajittelujärjestys

Sort Results

Luettelonäkymä
SearchResultCount:"489"

Rate These Search Results

Product Image-LEIM11506382

HC PLAN FLUOTAR 40×/0,80 NA; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,4 mm

Kuvaus: HC PLAN FLUOTAR 40×/0,80 NA; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,4 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506382
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506519

HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 1,2 mm

Kuvaus: HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 1,2 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506519
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506525

HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,18 mm

Kuvaus: HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,18 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506525
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506097

N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,36 mm

Kuvaus: N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,36 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506097
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506220

HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,09 mm

Kuvaus: HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,09 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506220
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3366
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3367

HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Työetäisyys: 1,15 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Työetäisyys: 1,15 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3367
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Työetäisyys: 0,5 mm

Kuvaus: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Työetäisyys: 0,5 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3369
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506184

N PLAN 63×/0,80 NA 0,7/D 0,26; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Työetäisyys: 0,26 mm

Kuvaus: N PLAN 63×/0,80 NA 0,7/D 0,26; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Työetäisyys: 0,26 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506184
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506277

HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 0,92 mm

Kuvaus: HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 0,92 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506277
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506401

HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 17,7 mm

Kuvaus: HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 17,7 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506401
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506349

HC PLAN APO 63×/1,40 NA - 0,60 oil; BF, DIC, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Työetäisyys: 0,14 mm

Kuvaus: HC PLAN APO 63×/1,40 NA - 0,60 oil; BF, DIC, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Työetäisyys: 0,14 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506349
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556036

N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Työetäisyys: 11,2 mm

Kuvaus: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Työetäisyys: 11,2 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556036
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556511

HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556511
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556061

HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556061
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556065

HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,36 mm

Kuvaus: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,36 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556065
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
177 - 192 of 489