Tulosta…

Hait: Mikroskoopin+okulaarit


485  results were found

Rajaa tulokset Lajittelujärjestys

Sort Results

Luettelonäkymä
SearchResultCount:"485"

Rate These Search Results

Image Unavailable-630-3062

Fluorite phase objective, Revolve, 40×, Työetäisyys: 0,51 mm, Tuotteelle: Revolve 4

Kuvaus: Fluorite phase objective, Revolve, 40×, Työetäisyys: 0,51 mm, Tuotteelle: Revolve 4
Tuoteluettelon nro: 630-3062
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: DISCOVER ECHO
Image Unavailable-ZEIS4212319910000

Objective LD A-Plan Ph1, 5× (0,15 mm)

Kuvaus: Objective LD A-Plan Ph1, 5× (0,15 mm)
Tuoteluettelon nro: ZEIS4212319910000
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: ZEISS
Product Image-LEIM11506241

HI PLAN phase objective OIL PH3, 100×/1,25, Työetäisyys: 0,1 mm

Kuvaus: HI PLAN phase objective OIL PH3, 100×/1,25, Työetäisyys: 0,1 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506241
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3368

HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Työetäisyys: 11,7 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Työetäisyys: 11,7 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3368
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556060

HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Työetäisyys: 18 mm

Kuvaus: HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Työetäisyys: 18 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556060
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506276

HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 0,92 mm

Kuvaus: HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 0,92 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506276
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506386

HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,3 mm

Kuvaus: HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,3 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506386
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506321

N PLAN 50×/0,9 NA oil; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 50×, Työetäisyys: 0,14 mm

Kuvaus: N PLAN 50×/0,9 NA oil; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 50×, Työetäisyys: 0,14 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506321
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3302

HI PLAN phase 4×/0,10 NA PH0; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Työetäisyys: 13,9 mm

Kuvaus: HI PLAN phase 4×/0,10 NA PH0; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Työetäisyys: 13,9 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3302
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3304

HI PLAN phase 20×/0,30 NA PH1; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 3 mm

Kuvaus: HI PLAN phase 20×/0,30 NA PH1; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 3 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3304
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506302

N PLAN 5×/0,12 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 5×, Työetäisyys: 14 mm

Kuvaus: N PLAN 5×/0,12 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 5×, Työetäisyys: 14 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506302
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506227

HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Työetäisyys: 18 mm

Kuvaus: HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Työetäisyys: 18 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506227
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3366
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3367

HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Työetäisyys: 1,15 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Työetäisyys: 1,15 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3367
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Työetäisyys: 0,5 mm

Kuvaus: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Työetäisyys: 0,5 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3369
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506220

HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,09 mm

Kuvaus: HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,09 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506220
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
145 - 160 of 485