Tulosta…

Hait: Mikroskoopin+lamput


641  results were found

Rajaa tulokset Lajittelujärjestys

Sort Results

Luettelonäkymä
SearchResultCount:"641"

Rate These Search Results

Product Image-LEIM11556511

HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556511
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556061

HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556061
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556065

HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,36 mm

Kuvaus: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,36 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556065
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556071

HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 0,92 mm

Kuvaus: HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 0,92 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556071
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3189

N PLAN 10×/0,25 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 17,7 mm

Kuvaus: N PLAN 10×/0,25 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 17,7 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3189
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3188

N PLAN L 20×/0,35 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 6,9 mm

Kuvaus: N PLAN L 20×/0,35 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 6,9 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3188
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506237

HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Työetäisyys: 0,31 mm

Kuvaus: HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Työetäisyys: 0,31 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506237
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3310

HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 17,7 mm

Kuvaus: HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 17,7 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3310
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506236

HI PLAN achromatic objective, 40×/0,65 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,35 mm

Kuvaus: HI PLAN achromatic objective, 40×/0,65 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,35 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506236
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506083

N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Työetäisyys: 11,2 mm

Kuvaus: N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Työetäisyys: 11,2 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506083
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506273

HI PLAN phase 40×/0,50 NA PH2; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 2 mm

Kuvaus: HI PLAN phase 40×/0,50 NA PH2; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 2 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506273
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3301

N PLAN L phase 40×/0,55 NA PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 3,3 - 1,9 mm

Kuvaus: N PLAN L phase 40×/0,55 NA PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 3,3 - 1,9 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3301
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3305

HI PLAN phase 40×/0,50 NA PH1; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 2 mm

Kuvaus: HI PLAN phase 40×/0,50 NA PH1; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 2 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3305
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3303

HI PLAN phase 10×/0,22 NA PH1; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 7,8 mm

Kuvaus: HI PLAN phase 10×/0,22 NA PH1; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 7,8 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3303
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506158

N PLAN 100×/1,25 NA oil; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,12 mm

Kuvaus: N PLAN 100×/1,25 NA oil; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Työetäisyys: 0,12 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506158
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506405

N PLAN 10×/0,25 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 17,7 mm

Kuvaus: N PLAN 10×/0,25 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 17,7 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506405
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
193 - 208 of 641