Tulosta…

Hait: Mikroskoopin objektiivit

Mikroskooppilinssit ovat keskeinen osa jokaista mikroskooppijärjestelmää, suunniteltu tarkkaan valon fokusoimiseen ja korkearesoluutioisten näytekuvien tuottamiseen. Olipa kyseessä koulutukselliset tarkoitukset, kliiniset tutkimukset tai edistyneet tieteelliset tutkimukset, oikean objektiivilinssin valinta on kriittinen suurennuksen ja kirkkauden parantamiseksi. Suorituskykyiset objektiivilinssit, joilla on optimaaliset numeeriset aukot, voivat merkittävästi parantaa kuvanlaatua, vastaten solubiologian, lääketieteellisen diagnostiikan ja materiaalitieteen alojen ammattilaisten tarpeisiin. Investoimalla korkealaatuisiin mikroskooppilinseihin varmistat jokaisen yksityiskohdan tarkan tallennuksen vertaansa vailla olevalla tarkkuudella, täyttäen nykyaikaisen mikroskopian tiukat vaatimukset.

Mikroskooppilinssit ovat keskeinen osa jokaista mikroskooppijärjestelmää, suunniteltu tarkkaan valon fokusoimiseen ja korkearesoluutioisten näytekuvien tuottamiseen. Olipa kyseessä koulutukselliset tarkoitukset, kliiniset tutkimukset tai edistyneet tieteelliset tutkimukset, oikean objektiivilinssin valinta on kriittinen suurennuksen ja kirkkauden parantamiseksi. Suorituskykyiset objektiivilinssit, joilla on optimaaliset numeeriset aukot, voivat merkittävästi parantaa kuvanlaatua, vastaten solubiologian, lääketieteellisen diagnostiikan ja materiaalitieteen alojen ammattilaisten tarpeisiin. Investoimalla korkealaatuisiin mikroskooppilinseihin varmistat jokaisen yksityiskohdan tarkan tallennuksen vertaansa vailla olevalla tarkkuudella, täyttäen nykyaikaisen mikroskopian tiukat vaatimukset.


349  results were found

Rajaa tulokset Lajittelujärjestys

Sort Results

Luettelonäkymä
SearchResultCount:"349"

Rate These Search Results

Image Unavailable-630-3054

Fluorite phase objective, Revolve, 10×, Työetäisyys: 10 mm

Kuvaus: Fluorite phase objective, Revolve, 10×, Työetäisyys: 10 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3054
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: DISCOVER ECHO
Image Unavailable-ECHLJMAG0609

U-Plan fluorite objective, Revolve, 60×, Työetäisyys: 0,2 mm

Kuvaus: U-Plan fluorite objective, Revolve, 60×, Työetäisyys: 0,2 mm
Tuoteluettelon nro: ECHLJMAG0609
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: DISCOVER ECHO
Image Unavailable-ECHLCMAG0042

Plan fluorite, 0,13 NA aperture, Revolve, 4×, Työetäisyys: 17 mm

Kuvaus: Plan fluorite, 0,13 NA aperture, Revolve, 4×, Työetäisyys: 17 mm
Tuoteluettelon nro: ECHLCMAG0042
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: DISCOVER ECHO

New Product


Product Image-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3366
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3368

HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Työetäisyys: 11,7 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Työetäisyys: 11,7 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3368
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3367

HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Työetäisyys: 1,15 mm

Kuvaus: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Työetäisyys: 1,15 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3367
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Työetäisyys: 0,5 mm

Kuvaus: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Työetäisyys: 0,5 mm
Tuoteluettelon nro: 630-3369
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506277

HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 0,92 mm

Kuvaus: HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Työetäisyys: 0,92 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506277
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506401

HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 17,7 mm

Kuvaus: HI PLAN CY 10×/0,25 NA SL ; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 17,7 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506401
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506227

HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Työetäisyys: 18 mm

Kuvaus: HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Työetäisyys: 18 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506227
UOM: 1 * 1 Each
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506314

N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,37 mm

Kuvaus: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,37 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11506314
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-ZEIS4212319910000

Objective LD A-Plan Ph1, 5× (0,15 mm)

Kuvaus: Objective LD A-Plan Ph1, 5× (0,15 mm)
Tuoteluettelon nro: ZEIS4212319910000
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: ZEISS
Product Image-LEIM11556036

N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Työetäisyys: 11,2 mm

Kuvaus: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Työetäisyys: 11,2 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556036
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556061

HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556061
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556511

HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm

Kuvaus: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Työetäisyys: 12 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556511
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556065

HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,36 mm

Kuvaus: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Työetäisyys: 0,36 mm
Tuoteluettelon nro: LEIM11556065
UOM: 1 * 1 Items
Toimittaja: LEICA MICROSYSTEMS
193 - 208 of 349